Preview

Известия Национальной академии наук Беларуси. Серия физико-технических наук

Расширенный поиск

Влияние нагрузки в контакте зонд - образец на качество изображений в полуконтактном динамическом режиме атомно-силовой микроскопии

Аннотация

Описаны результаты исследований влияния относительной нагрузки на качество изображений, получаемых в динамическом полуконтактном режиме атомно-силовой микроскопии полимерного материала с внедренными наночастицами и биологического материала (раковых клеток). Показано, что для различных зондов существуют собственные оптимальные нагрузки, при которых получаются изображения наиболее высокого качества. Приведены оценки величин относительных нагрузок.

Об авторах

А. А. Мохаммед Салем
Белорусский национальный технический университет
Беларусь


Е. С. Дрозд
Институт тепло- и массообмена им. А. В. Лыкова НАН Беларуси; Генуэзский университет
Беларусь


С. А. Чижик
Институт тепло- и массообмена им. А. В. Лыкова НАН Беларуси
Беларусь


Список литературы

1. Tao N. J., Lindsay S. M, Lees S. // Biophys. J. 1992. Vol. 63. P. 1165-1169.

2. Weisenhorn A., Khorsandi M, Kasas S. et al. // Nanotechnology. 1993. Vol. 4. P. 106-113.

3. A-Hassan E, Heinz W. F, Antonik M. D. et al. // Biophys. J. 1998. Vol. 74. P. 1564-1578.

4. Matzke R, Jacobson K, Radmacher M. // Nat. Cell Biol. 2001. Vol. 3. P. 607-610.

5. Morgenthaler F. D, Knott G. W, Floyd Sarria J. C. et al. // Eur. J. Neurosci. 2003. Vol. 17. P. 1365-1374.

6. Lim C. T, Dao M., Suresh S. et al. // Acta Mater. 2004. Vol. 5. P. 4065- 4066.

7. Karvinen K. S., Moheimani S. O. R. // Ultramicroscopy. 2014. Vol. 137. P. 66-71.

8. Fairbairn M. W, Moheimani S. O. R, Fleming A. J. // Australian Control Conference (AUCC), 2011. P. 26-31.

9. Bo Xue, Yongda Yan, Zhenjiang Hu, Xuesen Zhao // The Journal of Scanning Microscopies. 2014. Vol. 36, issue 2. P. 263-269.

10. Raposo M, Fereira Q., Ribeiro P. A. In: Modern Research and Education Topics in Microscopy. A. Mendez-Vilas and J. Diaz (Eds.). FORMATEX 2007. P. 758-769.

11. Chen A., Bertozzi A. L, Ashby P. D. et al. Enhancement and Recovery in Atomic Force Microscopy Images in Excursions in Harmonic Analysis, Vol. 2, Andrews T. D., Balan R., Benedetto J. J., Czaja W., Okoudjou K. A. (Eds.), Birkhauser Basel. 2013. P. 311-332.


Рецензия

Просмотров: 568


Creative Commons License
Контент доступен под лицензией Creative Commons Attribution 4.0 License.


ISSN 1561-8358 (Print)
ISSN 2524-244X (Online)