vestiftИзвестия Национальной академии наук Беларуси. Серия физико-технических наукProceedings of the National Academy of Sciences of Belarus. Physical-technical series1561-83582524-244XThe Republican Unitary Enterprise Publishing House "Belaruskaya Navuka"vestift-127Research ArticleМАТЕРИАЛОВЕДЕНИЕ, МЕТАЛЛУРГИЯMATERIALS SCIENCES AND ENGINEERING, METALLURGYВлияние шероховатости поверхности подложек на экранирующие от электромагнитных излучений свойства формируемых на них покрытийInfluence of surface roughness of substrate layers on electromagnetic radiation shielding characteristics of coatings deposited on themВолочкоА. Т.VolochkoA. T.noemail@neicon.ruЗеленинВ. А.ZeleninV. A.noemail@neicon.ruМарковГ. В.MarkovG. V.noemail@neicon.ruНарушкоЕ. О.NarushkoE. O.noemail@neicon.ruФизико-технический институт НАН БеларусиBelarus201528062016039699Copyright © Волочко А.Т., Зеленин В.А., Марков Г.В., Нарушко Е.О., 20162016Волочко А.Т., Зеленин В.А., Марков Г.В., Нарушко Е.О.Volochko A.T., Zelenin V.A., Markov G.V., Narushko E.O.Данная работа распространяется под лицензией Creative Commons Attribution 4.0.This work is licensed under a Creative Commons Attribution 4.0 License.https://vestift.belnauka.by/jour/article/view/127

Проведены исследования и выявлены закономерности влияния микро- и макронеровностей (шероховатости) поверхности подложек на экранирующие свойства формируемых на них покрытий. Показано, что чем больше величина отношения параметра шероховатости поверхности Rz к длине волны электромагнитного излучения 1 (параметр Релея), тем сильнее влияние неровностей на ее отражении от поверхности. В инженерных расчетах при создании экранов от электромагнитных излучений величина шероховатости может не приниматься во внимание, если длина волны электромагнитного излучения превышает 1 • 10-2 м.

Research has been carried out and regularities of influence of micro- and macro-roughness of surface of substrate layers on electromagnetic radiation shielding characteristics of coatings deposited on them have been determined. It has been shown that the bigger the value of the ratio of the product of the surface roughness Rz by the length of descent of an electromagnetic wave X (the Rayleigh parameter), the bigger influence the roughness has on surface reflection. In engineering evaluations aimed at designing electromagnetic radiation shields roughness can be disregarded, if the wavelength of electromagnetic radiation exceeds 1 • 10-2 m.

ReferencesШапиро Д. Н. Основы теории электромагнитного экранирования. Л., 1975.Шапиро Д. Н. Основы теории электромагнитного экранирования. Л., 1975.Полонский Н. Б. Конструирование электромагнитных экранов для РЭА. М., 1979.Полонский Н. Б. Конструирование электромагнитных экранов для РЭА. М., 1979.Лагарьков А. Н. и др. // Радиотехника и электроника. М., 2009. Т. 54, № 5. С. 625-633.Лагарьков А. Н. и др. // Радиотехника и электроника. М., 2009. Т. 54, № 5. С. 625-633.Лыньков Л. М., Борботько Т. В., Криштопова Е. А. // Письма в ЖТФ. 2009. Т. 35, № 9. С. 44-48.Лыньков Л. М., Борботько Т. В., Криштопова Е. А. // Письма в ЖТФ. 2009. Т. 35, № 9. С. 44-48.Максимов Г. А., Ларичев В. А. // Акустика неоднородных сред. Ежегодник РАО. 2011. № 12. С. 89-102.Максимов Г. А., Ларичев В. А. // Акустика неоднородных сред. Ежегодник РАО. 2011. № 12. С. 89-102.Штагер Е. А. Рассеяние радиоволн на телах сложной формы. М., 1986.Штагер Е. А. Рассеяние радиоволн на телах сложной формы. М., 1986.Басс Ф. Г., Фукс И. М. Рассеяние волн на статистически шероховатых поверхностях. М., 1975.Басс Ф. Г., Фукс И. М. Рассеяние волн на статистически шероховатых поверхностях. М., 1975.Jenn D. C. Radar and Lazer Cross Section Engineering. American Institute of Aeronautics and Astronautics. Hardcover, 2005.Jenn D. C. Radar and Lazer Cross Section Engineering. American Institute of Aeronautics and Astronautics. Hardcover, 2005.

The authors declare that there are no conflicts of interest present.