vestiftИзвестия Национальной академии наук Беларуси. Серия физико-технических наукProceedings of the National Academy of Sciences of Belarus. Physical-technical series1561-83582524-244XThe Republican Unitary Enterprise Publishing House "Belaruskaya Navuka"vestift-59Research ArticleРАДИОЭЛЕКТРОНИКА И ПРИБОРОСТРОЕНИЕRADIOELECTRONICS AND INSTRUMENT-MAKINGВлияние нагрузки в контакте зонд - образец на качество изображений в полуконтактном динамическом режиме атомно-силовой микроскопииAn influence of loading in the probe-sample contact on the image quality of atomic force microscopes at semi-contact modeМохаммед СалемА. А.Mohammed SalemA. A.noemail@neicon.ruДроздЕ. С.DrozdE. S.noemail@neicon.ruЧижикС. А.ChizhikS. A.noemail@neicon.ruБелорусский национальный технический университетBelarusИнститут тепло- и массообмена им. А. В. Лыкова НАН Беларуси; Генуэзский университетBelarusИнститут тепло- и массообмена им. А. В. Лыкова НАН БеларусиBelarus20142806201603112116Copyright © Мохаммед Салем А.А., Дрозд Е.С., Чижик С.А., 20162016Мохаммед Салем А.А., Дрозд Е.С., Чижик С.А.Mohammed Salem A.A., Drozd E.S., Chizhik S.A.Данная работа распространяется под лицензией Creative Commons Attribution 4.0.This work is licensed under a Creative Commons Attribution 4.0 License.https://vestift.belnauka.by/jour/article/view/59

Описаны результаты исследований влияния относительной нагрузки на качество изображений, получаемых в динамическом полуконтактном режиме атомно-силовой микроскопии полимерного материала с внедренными наночастицами и биологического материала (раковых клеток). Показано, что для различных зондов существуют собственные оптимальные нагрузки, при которых получаются изображения наиболее высокого качества. Приведены оценки величин относительных нагрузок.

The results of the effect of relative loading on the quality of images of cancer cells and polymer material, obtained with atomic force microscopy in the dynamic tapping mode are described. It is shown that there are optimal loads for different probes, which produce images of the highest quality. The estimation of the loads are made.

ReferencesTao N. J., Lindsay S. M, Lees S. // Biophys. J. 1992. Vol. 63. P. 1165-1169.Tao N. J., Lindsay S. M, Lees S. // Biophys. J. 1992. Vol. 63. P. 1165-1169.Weisenhorn A., Khorsandi M, Kasas S. et al. // Nanotechnology. 1993. Vol. 4. P. 106-113.Weisenhorn A., Khorsandi M, Kasas S. et al. // Nanotechnology. 1993. Vol. 4. P. 106-113.A-Hassan E, Heinz W. F, Antonik M. D. et al. // Biophys. J. 1998. Vol. 74. P. 1564-1578.A-Hassan E, Heinz W. F, Antonik M. D. et al. // Biophys. J. 1998. Vol. 74. P. 1564-1578.Matzke R, Jacobson K, Radmacher M. // Nat. Cell Biol. 2001. Vol. 3. P. 607-610.Matzke R, Jacobson K, Radmacher M. // Nat. Cell Biol. 2001. Vol. 3. P. 607-610.Morgenthaler F. D, Knott G. W, Floyd Sarria J. C. et al. // Eur. J. Neurosci. 2003. Vol. 17. P. 1365-1374.Morgenthaler F. D, Knott G. W, Floyd Sarria J. C. et al. // Eur. J. Neurosci. 2003. Vol. 17. P. 1365-1374.Lim C. T, Dao M., Suresh S. et al. // Acta Mater. 2004. Vol. 5. P. 4065- 4066.Lim C. T, Dao M., Suresh S. et al. // Acta Mater. 2004. Vol. 5. P. 4065- 4066.Karvinen K. S., Moheimani S. O. R. // Ultramicroscopy. 2014. Vol. 137. P. 66-71.Karvinen K. S., Moheimani S. O. R. // Ultramicroscopy. 2014. Vol. 137. P. 66-71.Fairbairn M. W, Moheimani S. O. R, Fleming A. J. // Australian Control Conference (AUCC), 2011. P. 26-31.Fairbairn M. W, Moheimani S. O. R, Fleming A. J. // Australian Control Conference (AUCC), 2011. P. 26-31.Bo Xue, Yongda Yan, Zhenjiang Hu, Xuesen Zhao // The Journal of Scanning Microscopies. 2014. Vol. 36, issue 2. P. 263-269.Bo Xue, Yongda Yan, Zhenjiang Hu, Xuesen Zhao // The Journal of Scanning Microscopies. 2014. Vol. 36, issue 2. P. 263-269.Raposo M, Fereira Q., Ribeiro P. A. In: Modern Research and Education Topics in Microscopy. A. Mendez-Vilas and J. Diaz (Eds.). FORMATEX 2007. P. 758-769.Raposo M, Fereira Q., Ribeiro P. A. In: Modern Research and Education Topics in Microscopy. A. Mendez-Vilas and J. Diaz (Eds.). FORMATEX 2007. P. 758-769.Chen A., Bertozzi A. L, Ashby P. D. et al. Enhancement and Recovery in Atomic Force Microscopy Images in Excursions in Harmonic Analysis, Vol. 2, Andrews T. D., Balan R., Benedetto J. J., Czaja W., Okoudjou K. A. (Eds.), Birkhauser Basel. 2013. P. 311-332.Chen A., Bertozzi A. L, Ashby P. D. et al. Enhancement and Recovery in Atomic Force Microscopy Images in Excursions in Harmonic Analysis, Vol. 2, Andrews T. D., Balan R., Benedetto J. J., Czaja W., Okoudjou K. A. (Eds.), Birkhauser Basel. 2013. P. 311-332.

The authors declare that there are no conflicts of interest present.