<?xml version="1.0" encoding="UTF-8"?>
<!DOCTYPE article PUBLIC "-//NLM//DTD JATS (Z39.96) Journal Publishing DTD v1.3 20210610//EN" "JATS-journalpublishing1-3.dtd">
<article article-type="research-article" dtd-version="1.3" xmlns:mml="http://www.w3.org/1998/Math/MathML" xmlns:xlink="http://www.w3.org/1999/xlink" xmlns:xsi="http://www.w3.org/2001/XMLSchema-instance" xml:lang="ru"><front><journal-meta><journal-id journal-id-type="publisher-id">vestift</journal-id><journal-title-group><journal-title xml:lang="ru">Известия Национальной академии наук Беларуси. Серия физико-технических наук</journal-title><trans-title-group xml:lang="en"><trans-title>Proceedings of the National Academy of Sciences of Belarus. Physical-technical series</trans-title></trans-title-group></journal-title-group><issn pub-type="ppub">1561-8358</issn><issn pub-type="epub">2524-244X</issn><publisher><publisher-name>The Republican Unitary Enterprise Publishing House "Belaruskaya Navuka"</publisher-name></publisher></journal-meta><article-meta><article-id pub-id-type="doi">10.29235/1561-8358-2021-66-2-135-144</article-id><article-id custom-type="elpub" pub-id-type="custom">vestift-660</article-id><article-categories><subj-group subj-group-type="heading"><subject>Research Article</subject></subj-group><subj-group subj-group-type="section-heading" xml:lang="ru"><subject>МАТЕРИАЛОВЕДЕНИЕ, МЕТАЛЛУРГИЯ</subject></subj-group><subj-group subj-group-type="section-heading" xml:lang="en"><subject>MATERIALS SCIENCES AND ENGINEERING, METALLURGY</subject></subj-group></article-categories><title-group><article-title>Влияние автооблучения на формирование наноразмерных слоев золота при ионно-лучевом напылении</article-title><trans-title-group xml:lang="en"><trans-title>Influence of the autoirradiation on nanosized gold layers formation by the ion-beam deposition</trans-title></trans-title-group></title-group><contrib-group><contrib contrib-type="author" corresp="yes"><name-alternatives><name name-style="eastern" xml:lang="ru"><surname>Галенко</surname><given-names>Е. Н.</given-names></name><name name-style="western" xml:lang="en"><surname>Galenko</surname><given-names>E. N.</given-names></name></name-alternatives><bio xml:lang="ru"><p>Галенко Евгений Николаевич – аспирант, младший научный сотрудник</p><p>ул. Студенческая, 28, 247760, Мозырь, Гомельская область, Республика Беларусь</p></bio><bio xml:lang="en"><p>Evgeniy N. Galenko – Postgraduate Student, Junior Researcher</p><p>28, Studencheskaya Str., 247760, Mozyr, Gomel Region, Republic of Belarus</p></bio><email xlink:type="simple">dghaer@mail.ru</email><xref ref-type="aff" rid="aff-1"/></contrib><contrib contrib-type="author" corresp="yes"><contrib-id contrib-id-type="orcid">https://orcid.org/0000-0002-7802-7487</contrib-id><name-alternatives><name name-style="eastern" xml:lang="ru"><surname>Шарко</surname><given-names>С. А.</given-names></name><name name-style="western" xml:lang="en"><surname>Sharko</surname><given-names>S. A.</given-names></name></name-alternatives><bio xml:lang="ru"><p>Шарко Сергей Александрович – кандидат физико-математических наук, старший научный сотрудник</p><p>ул. П. Бровки, 19, 220072, Минск, Республика Беларусь</p></bio><bio xml:lang="en"><p>Sergei A. Sharko – Ph. D. (Physics and Mathematics), Senior Researcher</p><p>19, P. Brovka Str., 220072, Minsk, Republic of Belarus</p></bio><email xlink:type="simple">sharko@physics.by</email><xref ref-type="aff" rid="aff-2"/></contrib><contrib contrib-type="author" corresp="yes"><contrib-id contrib-id-type="orcid">https://orcid.org/0000-0002-6607-4681</contrib-id><name-alternatives><name name-style="eastern" xml:lang="ru"><surname>Новицкий</surname><given-names>Н. Н.</given-names></name><name name-style="western" xml:lang="en"><surname>Novitskii</surname><given-names>N. N.</given-names></name></name-alternatives><bio xml:lang="ru"><p>Новицкий Николай Николаевич – кандидат физико-математических наук, старший научный сотрудник</p><p>ул. П. Бровки, 19, 220072, Минск, Республика Беларусь</p></bio><bio xml:lang="en"><p>Nikolay N. Novitskii – Ph. D. (Physics and Mathematics), Senior Researcher</p><p>19, P. Brovka Str., 220072 Minsk, Republic of Belarus</p></bio><email xlink:type="simple">novitski@ifttp.bas-net.by</email><xref ref-type="aff" rid="aff-2"/></contrib><contrib contrib-type="author" corresp="yes"><name-alternatives><name name-style="eastern" xml:lang="ru"><surname>Иваш</surname><given-names>О. И.</given-names></name><name name-style="western" xml:lang="en"><surname>Ivash</surname><given-names>O. I.</given-names></name></name-alternatives><bio xml:lang="ru"><p>Иваш Ольга Ивановна – младший научный сотрудник</p><p>ул. П. Бровки, 19, 220072, Минск, Республика Беларусь</p></bio><bio xml:lang="en"><p>Olga I. Ivash – Junior Researcher</p><p>19, P. Brovka Str., 220072 Minsk, Republic of Belarus</p></bio><xref ref-type="aff" rid="aff-2"/></contrib><contrib contrib-type="author" corresp="yes"><contrib-id contrib-id-type="orcid">https://orcid.org/0000-0002-2075-1755</contrib-id><name-alternatives><name name-style="eastern" xml:lang="ru"><surname>Кецко</surname><given-names>В. А.</given-names></name><name name-style="western" xml:lang="en"><surname>Ketsko</surname><given-names>V. A.</given-names></name></name-alternatives><bio xml:lang="ru"><p>Кецко Валерий Александрович – доктор химических наук, главный научный сотрудник</p><p>Ленинский пр., 31, 119991, Москва, Российская Федерация</p></bio><bio xml:lang="en"><p>Valerii A. Ketsko – D. Sc. (Chemistry), Chief Researcher</p><p>31, Leninskii Ave., 119991, Moscow, Russian Federation</p></bio><email xlink:type="simple">ketsko@igic.ras.ru</email><xref ref-type="aff" rid="aff-3"/></contrib></contrib-group><aff-alternatives id="aff-1"><aff xml:lang="ru"><institution>Мозырский государственный педагогический университет им. И. П. Шамякина</institution></aff><aff xml:lang="en"><institution>Mozyr State Pedagogical University named after I. P. Shamyakin</institution></aff></aff-alternatives><aff-alternatives id="aff-2"><aff xml:lang="ru"><institution>Научно-практический центр Национальной академии наук Беларуси по материаловедению</institution></aff><aff xml:lang="en"><institution>Scientific-Practical Materials Research Centre of the National Academy of Science of Belarus</institution></aff></aff-alternatives><aff-alternatives id="aff-3"><aff xml:lang="ru"><institution>Институт общей и неорганической химии им. Н. С. Курнакова Российской академии наук</institution></aff><aff xml:lang="en"><institution>Kurnakov Institute of General and Inorganic Chemistry, Russian Academy of Sciences</institution></aff></aff-alternatives><pub-date pub-type="collection"><year>2021</year></pub-date><pub-date pub-type="epub"><day>15</day><month>07</month><year>2021</year></pub-date><volume>66</volume><issue>2</issue><fpage>135</fpage><lpage>144</lpage><permissions><copyright-statement>Copyright &amp;#x00A9; Галенко Е.Н., Шарко С.А., Новицкий Н.Н., Иваш О.И., Кецко В.А., 2021</copyright-statement><copyright-year>2021</copyright-year><copyright-holder xml:lang="ru">Галенко Е.Н., Шарко С.А., Новицкий Н.Н., Иваш О.И., Кецко В.А.</copyright-holder><copyright-holder xml:lang="en">Galenko E.N., Sharko S.A., Novitskii N.N., Ivash O.I., Ketsko V.A.</copyright-holder><license xml:lang="ru" license-type="creative-commons-attribution" xlink:href="https://creativecommons.org/licenses/by/4.0/" xlink:type="simple"><license-p>Данная работа распространяется под лицензией Creative Commons Attribution 4.0.</license-p></license><license xml:lang="en" license-type="creative-commons-attribution" xlink:href="https://creativecommons.org/licenses/by/4.0/" xlink:type="simple"><license-p>This work is licensed under a Creative Commons Attribution 4.0 License.</license-p></license></permissions><self-uri xlink:href="https://vestift.belnauka.by/jour/article/view/660">https://vestift.belnauka.by/jour/article/view/660</self-uri><abstract><p>Методом ионно-лучевого напыления получены пленки золота толщиной 2–13 нм на кремниевых и кварцевых подложках. Показано, что применение дополнительной операции напыления с последующим распылением слоя золота толщиной 2–3 нм позволяет снизить электрическое сопротивление и поверхностную шероховатость получаемых металлических пленок по сравнению с аналогичными пленками, полученными без ее использования. Результаты измерения температурного коэффициента сопротивления образцов наноразмерных пленок золота на кремниевых подложках позволили заключить, что напыляемые пленки становятся сплошными при толщине 6–8 нм. Результаты оптических измерений пленок золота толщиной 10 нм, полученных на кварцевых подложках, показали, что коэффициент отражения электромагнитного излучения на длине волны 850 нм на 2,8 % выше соответствующего коэффициента для таких же пленок, полученных без использования данной операции, и составляет 83 %. Важную роль в формировании наноразмерных слоев золота играют процессы автооблучения растущего слоя высокоэнергетической составляющей потока атомов золота. При использовании дополнительной операции напыления/распыления происходит внедрение в подложку высокоэнергетических атомов золота на глубину до 2 нм. С одной стороны, эти атомы являются источниками точечных дефектов в приповерхностном нарушенном слое подложки; а с другой – они служат дополнительными центрами кластерообразования. За счет этого обеспечивается высокая адгезия слоя металла к подложке, и, как следствие, пленки золота становятся сплошными и более однородными по микроструктуре. Метод ионно-лучевого напыления может быть успешно применен для получения качественных проводящих оптически прозрачных наноразмерных пленок золота.</p></abstract><trans-abstract xml:lang="en"><p>2–13 nm gold films were obtained by the method of ion-beam sputtering on silicon and quartz substrates. It is shown that the use of an additional operation of deposition followed by the sputtering of a gold layer of 2–3 nm thickness makes it possible to reduce the electrical resistance and surface roughness of the metal films, in comparison with similar films obtained without its use. The results of measuring the temperature coefficient of resistance of nanosized gold films on silicon substrates allowed us to conclude that the films deposited become continuous at a thickness of 6-8 nm. The results of optical measurements of 10 nm gold films, obtained on quartz substrates, showed that the reflection coefficient of electromagnetic radiation at a wavelength of 850 nm is 2.8 % higher than the corresponding coefficient for the same films obtained without using this operation, and is 83 %. An important role in the formation of nanoscale gold layers is played by the processes of self-irradiation of the growing layer of the high-energy component of the gold atoms flux. When using an additional operation of deposition/sputtering, high-energy gold atoms are implanted into the substrate to a depth of about 2 nm. On the one hand, these atoms are point defects in the surface damaged layer of the substrate; on the other hand, they serve as additional centers of cluster formation. This ensures strong adhesion of the metal layer to the substrate and, therefore, the gold films become continuous and more homogeneous in microstructure. The method of ion-beam deposition can be successfully applied to obtain high-quality conductive optically transparent nanosized gold films.</p></trans-abstract><kwd-group xml:lang="ru"><kwd>ионно-лучевое напыление/распыление</kwd><kwd>наноразмерные слои золота</kwd><kwd>электрическое сопротивление</kwd><kwd>шероховатость поверхности</kwd><kwd>автооблучение</kwd></kwd-group><kwd-group xml:lang="en"><kwd>ion-beam sputtering/deposition</kwd><kwd>nanosized gold layers</kwd><kwd>electric resistance</kwd><kwd>surface roughness</kwd><kwd>autoirradiation</kwd></kwd-group></article-meta></front><back><ref-list><title>References</title><ref id="cit1"><label>1</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Фотоника 2D-наноразмерных слоев золота на поверхности сапфира / А. Э. Муслимов [и др.] // Кристаллография. – 2017. – Т. 62, № 2. – С. 290‒299. https://doi.org/10.7868/S0023476117020199</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Muslimov A. E., Butashin A. V., Kanevsky V. M., Nabatov B. V., Konovko A. A., Belov I. V., Gizetdinov R. M., Andreev A. V. Photonics of 2D nanoscale gold layers on a sapphire surface. Crystallography Reports, 2017, vol. 62, no. 2, pp. 300‒308. https://doi.org/10.1134/s1063774517020195</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit2"><label>2</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Двухрешетчатые магнитоплазмонные структуры на основе BIG и перфорированных пленок золота / П. Н. Найденов [и др.] // Физика твердого тела. – 2019. – Т. 61, № 9. – С. 1076‒1711. https://doi.org/10.21883/FTT.2019.09.48114.22N</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Naydenov P. N., Chekhov A. L., Golikova O. L., Bespalov A. V., Geraskin A. A., Savin S. S., Murzina T. V. Two-lattice magnetoplasmonic structures based on BIG and perforated gold films. Physics of the Solid State, 2019, vol. 61, no. 9, pp. 1658‒1664. https://doi.org/10.1134/s106378341909018x</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit3"><label>3</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Стогний, А. И. Получение методом ионно-лучевого распыления кислородом и оптические свойства ультратонких пленок золота / А. И. Стогний, Н. Н. Новицкий, С. Д. Тушина, С. В. Калинников // Журн. техн. физики. – 2003. – Т. 73, № 6. – С. 86–89.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Stognij A. I., Novitsky N. N., Tushina S. D., Kalinnikov S. V. Preparation of ultrathin gold films by oxygen-ion sputtering and their optical properties. Technical Physics, 2003, vol. 43, no. 6, pp. 745–748. https://doi.org/10.1134/1.1583829</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit4"><label>4</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Optical constants and structural properties of thin gold films / D. I. Yakubovsky [et al.] // Optics Express. – 2017. – Vol. 25, № 21. – P. 25574–25587. https://doi.org/10.1364/OE.25.025574</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Yakubovsky D. I., Arsenin A. V., Stebunov Yu. V., Fedyanin D. Yu., Volkov V. S. Optical constants and structural properties of thin gold films. Optics Express, 2017, vol. 25, no. 21, pp. 25574–25587. https://doi.org/10.1364/OE.25.025574</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit5"><label>5</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Applications of plasmonics: general discussion / V. Bochenkov [et al.] // Faraday Discuss. – 2015. – Vol. 178.– P. 435–466. https://doi.org/10.1039/c5fd90025e</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Bochenkov V., Baumberg J., Noginov M., Benz F., Aldewachi H., Schmid S., Podolskiy V., Aizpurua J., Lin K., Ebbesen T., Kornyshev A. A., Hutchison J., Matczyszyn K., Kumar S., Nijs B. de, Rodríguez Fortuño F., Hugall J. T., de Roque P., Hulst N. van, Kotni S., Martin O., García de Abajo F. J., Flatté M., Mount A., Moskovits M., Ginzburg P., Zueco D., Zayats A., Oh S.-H., Chen Y., Richards D., Belardini A., Narang P. Applications of plasmonics: general discussion. Faraday Discuss, 2015, vol. 178,pp. 435–466. https://doi.org/10.1039/c5fd90025e</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit6"><label>6</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Fang, Y. Nanoplasmonic waveguides: towards applications in integrated nanophotonic circuits / Y. Fang, M. Sun // Light Sci. Appl. – 2015. – Vol. 4 (6). – P. 294. https://doi.org/10.1038/LSA.2015.67</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Fang Y., Sun M. Nanoplasmonic waveguides: towards applications in integrated nanophotonic circuits. Light: Science &amp; Applications, 2015, vol. 4 (6), p. 294. https://doi.org/10.1038/LSA.2015.67</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit7"><label>7</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Gwo, S. Semiconductor plasmonicnanolasers: current status and perspective / S. Gwo, C.-K. Shih // Rep. Prog. Phys. – 2016. – Vol. 79 (8). – P. 086501. https://doi.org/10.1109/NUSOD.2010.5595670</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Gwo S., Shih C.-K. Semiconductor plasmonicnanolasers: current status and perspective. Reports on Progress in Physics, 2016, vol. 79 (8), p. 086501. https://doi.org/10.1109/NUSOD.2010.5595670</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit8"><label>8</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Optical negative refraction by four-wave mixing in thin metallic nanostructures / S. Palomba [et al.] // Nat. Mater. – 2011. – Vol. 11(1). – P. 34–38. https://doi.org/10.1038/nmat3148</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Palomba S., Zhang S., Park Y., Bartal G., Yin X., Zhang X. Optical negative refraction by four-wave mixing in thin metallic nanostructures. Nature Materials, 2011, vol. 11 (1), pp. 34–38. https://doi.org/10.1038/nmat3148</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit9"><label>9</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Photonic hypercrystals for control of light-matter interactions / T. Galfsky [et al.] // Proc. Nath. Acad. Sci. U.S.A. – 2017. – Vol. 114, N 20. – P. 5125–5129. https://doi.org/10.1073/pnas.1702683114</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Galfsky T., Gu J., Narimanov E. E., Menon V. M. Photonic hypercrystals for control of light-matter interactions. Proceedings of the National Academy of Sciences, 2017, vol. 114, no. 20, pp. 5125–5129. https://doi.org/10.1073/pnas.1702683114</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit10"><label>10</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Bundesmann, C. Tutorial: The systematics of ion beam sputtering for deposition of thin films with tailored properties / C. Bundesmann, H. Neumann // J. Appl. Phys. – 2018. – Vol. 124. – P. 231102-1-16. https://doi.org/10.1063/1.5054046</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Bundesmann C., Neumann H. Tutorial: The systematics of ion beam sputtering for deposition of thin films with tailored properties. Journal of Applied Physics, 2018, vol. 124, p. 231102-1-16. https://doi.org/10.1063/1.5054046</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit11"><label>11</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Стогний, А. И. Ионно-лучевое полирование наноразмерного рельефа поверхности оптических материалов / А. И. Стогний, Н. Н. Новицкий, О. М. Стукалов // Письма в Журн. техн. физики. – 2002. – Т. 28, № 1. – С. 39–48.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Stognij A. I., Novitsky N. N., Stukalov O. M. Nanoscale ion beam polishing of optical materials. Technical Physics Letters, 2002, vol. 28, no. 1, pp. 17–20.  https://doi.org/10.1134/1.1448630</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit12"><label>12</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Interface magnetoelectric effect in the layered heterostructures with Co layers on the polished and ion-beam planarized ceramic PZT substrates / A. I. Stognij [et al.]// Eur. Phys. J. Appl. Phys. – 2015. – Vol. 69. – P. 11301–11305. https://doi.org/10.1051/epjap/2014140402</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Stognij A. I., Novitskii N. N., Poddubnaya N. N., Sharko S. A., Ketsko V. A., Mikhailov V., Dyakonov V., Szymczak H. Interface magnetoelectric effect in the layered heterostructures with Co layers on the polished and ion-beam planarized ceramic PZT substrates. European Physical Journal Applied Physics, 2015, vol. 69, 11301-p1 (5 pages). https://doi.org/10.1051/epjap/2014140402</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit13"><label>13</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Interface magnetoelectric effect in elastically linked Co/PZT/Co layered structures / A. I. Stognij [et al.] // J. Magn. Magn. Mater. – 2019. – Vol. 485. – P. 291–296. https://doi.org/10.1016/j.jmmm.2019.04.006</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Stognij A. I., Novitskii N. N., Trukhanov S. V., Trukhanov A. V., Panina L. V., Sharko S. A., Serokurova A. I., Poddubnaya N. N., Ketsko V. A., Dyakonov V. P., Szymczak H., Singh C., Yang Y. Interface magnetoelectric effect in elastically linked Co/PZT/Co layered structures. Journal of Magnetism and Magnetic Materials, 2019, vol. 485, pp. 291–296. https://doi.org/10.1016/j.jmmm.2019.04.006</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit14"><label>14</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Стогний, А. И. Особенности перераспределения кобальта по поверхности пленок неоднородных сплавов кобальт – медь / А. И. Стогний, С. В. Корякин, Н. Н. Новицкий // Журн. техн. физики. – 2003. – Т. 73, № 4. – С. 117–123.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Stognij A. I., Koryakin S. V., Novitsky N. N. Cobalt redistribution over the surface of inhomogeneous cobalt-copper alloy films. Technical Physics, 2003, vol. 48. no. 4, pp. 496–502.  https://doi.org/10.1134/1.1568493</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit15"><label>15</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Контролируемое получение наноразмерных пленок Cо на Si(100) ионно-лучевым осаждением / А. И. Стогний [и др.] // Неорган. материалы. – 2011. – Т. 47, № 11. – C. 962–968.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Stognij A. I., Pashkevich M. V., Novitskii N. N., Gribkov B. A., Mironov V. L., Ketsko V. A., Fettar F., Garad H. Controlled Growth of Co Nanofilms on Si(100) by Ion-Beam Sputtering. Inorganic Materials, 2011, vol. 47, no. 8, pp. 869–875. https://doi.org/10.1134/S0020168511080206</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit16"><label>16</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Магнитные свойства пленок кобальта на начальной стадии ионно-лучевого осаждения / А. И. Стогний [и др.] // Письма в Журн. техн. физики. – 2009. – Т. 35, № 11. – С. 96–103.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Stognij A. I., Meshcheryakov V. F., Novitsky N. N., Fettar F., Pashkevich M. V. Magnetic properties of cobalt films at the initial stage of ion-beam deposition. Technical Physics Letters, 2009, vol. 35, no. 6, pp. 528–531. https://doi.org/10.1134/s1063785009060145</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit17"><label>17</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">О неоднородном характере начальной стадии ионно-лучевого осаждения ультратонких пленок золота / А. И. Стогний [и др.] // Письма в Журн. техн. физики. – 2004. – Т. 30, № 6. – С. 87–94.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Stognij A. I., Novitsky N. N., Stukalov O. M., Demchenko A. I., Khitko V. I. On the inhomogeneous nature of the initial stage of ion-beam deposition of ultrathin gold films. Technical Physics Letters, 2004, vol. 30, no. 3, pp. 256–258.https://doi.org/10.1134/1.1707185</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit18"><label>18</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Бурлаков, Р. Б. К вопросу об измерении удельного сопротивления проводящих слоев четырехзондовым методом / Р. Б. Бурлаков, В. С. Ковивчак // Вестн. Ом.ун-та. – 2014. – № 2. – С. 59–68.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Burlakov R. B., Kovivchak V. S. On the question of measuring the resistivity of conducting layers by the four-probe method. Vestnik Omskogo universiteta= Herald of Omsk University, 2014, no. 2, pp. 59–68 (in Russian).</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit19"><label>19</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Эмсли, Дж. Элементы / Дж. Эмсли. – М.: Мир, 1993. – 256 с.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Emsley J. The Elements. Oxford University Press, 1998. 300 p.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit20"><label>20</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Физика тонких пленок / под общ.ред. Г. Хасса, Р. Э. Туна. – М.: Мир, 1967. – Т. 2: Современное состояние исследований и технические применения. – 396 с.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Haas G., ThunR. E. (eds.) Physics of Thin Films. Vol. 2. Advances in Research and Development. New York; London, Academic Press, 1964. 396 p.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit21"><label>21</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Чопра, К. Тонкопленочные солнечные элементы / К. Чопра, С. Дас. – М.: Мир, 1986. – 440 с.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Chopra K. L., Das S. R. Thin Film Solar Cells. Springer Science – Business Media New York, 1983. 615 p. https://doi.org/10.1007/978-1-4899-0418-8</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit22"><label>22</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Gall, D. Electron mean free path in elemental metals / D. Gall // J. Appl. Phys. – 2016. – Vol. 119. – P. 085101-5. https://doi.org/10.1063/1.4942216</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Gall D. Electron mean free path in elemental metals. Journal of Applied Physics, 2016, vol. 119, p. 085101-5. https://doi.org/10.1063/1.4942216</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit23"><label>23</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Thompson, M. V. The velocity distribution of sputtered atoms / M. V. Thompson // Nucl. Instr. and Methods in Phys. Res. – 1986. – Vol. B. 18. – P. 411–429. https://doi.org/10.1016/S0168-583X(86)80067-2</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Thompson M.V. The velocity distribution of sputtered atoms. Nuclear Instruments and Methods in Physics Research, B. 1986, vol. 18, pp. 411–429. https://doi.org/10.1016/S0168-583X(86)80067-2</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit24"><label>24</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Фальконе, Д. Теория распыления / Д. Фальконе // Уcпехи физ. наук. – 1992. – Т. 162, № 1. – С. 71–117.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Falcone G. Sputtering theory. La Rivista del Nuovo Cimento, 1990, vol. 13, no. 1, pp. 1‒52. https://doi.org/10.1007/bf02742981</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit25"><label>25</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Киттель, Ч. Введение в физику твердого тела / Ч. Киттель. – М.: Изд-во физ.-мат. лит., 1962. – 696 с.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Kittel Ch. Introduction to Solid State Physics. John Wiley and Songs Inc., 1956. 680 p.</mixed-citation></citation-alternatives></ref></ref-list><fn-group><fn fn-type="conflict"><p>The authors declare that there are no conflicts of interest present.</p></fn></fn-group></back></article>
