Preview

Proceedings of the National Academy of Sciences of Belarus. Physical-technical series

Advanced search

Influence of surface roughness of substrate layers on electromagnetic radiation shielding characteristics of coatings deposited on them

Abstract

Research has been carried out and regularities of influence of micro- and macro-roughness of surface of substrate layers on electromagnetic radiation shielding characteristics of coatings deposited on them have been determined. It has been shown that the bigger the value of the ratio of the product of the surface roughness Rz by the length of descent of an electromagnetic wave X (the Rayleigh parameter), the bigger influence the roughness has on surface reflection. In engineering evaluations aimed at designing electromagnetic radiation shields roughness can be disregarded, if the wavelength of electromagnetic radiation exceeds 1 • 10-2 m.

About the Authors

A. T. Volochko
Физико-технический институт НАН Беларуси
Belarus


V. A. Zelenin
Физико-технический институт НАН Беларуси
Belarus


G. V. Markov
Физико-технический институт НАН Беларуси
Belarus


E. O. Narushko
Физико-технический институт НАН Беларуси
Belarus


References

1. Шапиро Д. Н. Основы теории электромагнитного экранирования. Л., 1975.

2. Полонский Н. Б. Конструирование электромагнитных экранов для РЭА. М., 1979.

3. Лагарьков А. Н. и др. // Радиотехника и электроника. М., 2009. Т. 54, № 5. С. 625-633.

4. Лыньков Л. М., Борботько Т. В., Криштопова Е. А. // Письма в ЖТФ. 2009. Т. 35, № 9. С. 44-48.

5. Максимов Г. А., Ларичев В. А. // Акустика неоднородных сред. Ежегодник РАО. 2011. № 12. С. 89-102.

6. Штагер Е. А. Рассеяние радиоволн на телах сложной формы. М., 1986.

7. Басс Ф. Г., Фукс И. М. Рассеяние волн на статистически шероховатых поверхностях. М., 1975.

8. Jenn D. C. Radar and Lazer Cross Section Engineering. American Institute of Aeronautics and Astronautics. Hardcover, 2005.


Review

Views: 620


Creative Commons License
This work is licensed under a Creative Commons Attribution 4.0 License.


ISSN 1561-8358 (Print)
ISSN 2524-244X (Online)